Çeşitli elektronik sistemleri test etmek için mikroişlemci kontrollü otomatik test sisteminin tasarlanması ve mikroişlemci programlarının hazırlanması

dc.contributor.advisorTütüncüoğlu, Ergür
dc.contributor.authorAlpaslan, Figen
dc.contributor.departmentUludağ Üniversitesi/Fen Bilimleri Enstitüsü/Elektronik Anabilim Dalı.tr_TR
dc.date.accessioned2020-01-09T05:45:47Z
dc.date.available2020-01-09T05:45:47Z
dc.date.issued1988-02-24
dc.description.abstractTest işleminde Lojik Entegre Devrelerin doğruluk tablola­rı esas alınmıştır. Bunlara göre entegre devrelerin giriş-çıkış uçları belirlenmiş olup, test bilgisi olarak bilgisayara veril­miştir. Bilgisayar, test bilgileri ile alınması gereken sonuçla­rı karşılaştırarak test işlemini gerçekleştirmektedir. Bu çalışmada fonksiyonları birbirinden farklı 6 entegre devrenin testi yapılmıştır. MPF-II'nin 24 K ’lık RAM bölgesine (4000-9FFF) yerleştirilecek daha çok sayıda kütüphane ile iste­nildiği kadar entegrenin testi yapılabilecektir. Kütüphane ek­lenmesi programda her hangi bir değişiklik gerektirmez. Hazırla­nan sistem ve yazılan programlar, bu tezde incelenmiş olan en­tegre devreler için istenilen sonuçları vermiştir.tr_TR
dc.description.abstractIn test process, function tables of logic integrated circuits are used. Input-output pins of integrated circuits are determined and are given to computer as test data. Test data are compared with expected results by using computer and test process has been completed. In this study, six integrated circuits of having different functions are tested. Any number of integrated circuit test can be done with several libraries located to 24 K RAM region of MPF-II. Adding library does not need any change in the program. In this thesis, hardware and software of system are in very good agreement with examined integrated circuits.en_US
dc.format.extentIX, 111 sayfatr_TR
dc.identifier.citationAlpaslan, F. (1988). Çeşitli elektronik sistemleri test etmek için mikroişlemci kontrollü otomatik test sisteminin tasarlanması ve mikroişlemci programlarının hazırlanması. Yayınlanmamış yüksek lisans tezi. Uludağ Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü.tr_TR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11452/5519
dc.language.isotrtr_TR
dc.publisherUludağ Üniversitesitr_TR
dc.relation.publicationcategoryTeztr_TR
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.subjectMikroişlemcitr_TR
dc.subjectMicroprocessoren_US
dc.subjectOtomatik test sistemtr_TR
dc.subjectAutomatic test systemen_US
dc.titleÇeşitli elektronik sistemleri test etmek için mikroişlemci kontrollü otomatik test sisteminin tasarlanması ve mikroişlemci programlarının hazırlanmasıtr_TR
dc.title.alternativeDesigning microprocessor controlled automatic test system for testing various electronic systems and preparing microprocessor programsen_US
dc.typemasterThesisen_US

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
003557.pdf
Size:
3.84 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
1.71 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description: