Publication: Çeşitli elektronik sistemleri test etmek için mikroişlemci kontrollü otomatik test sisteminin tasarlanması ve mikroişlemci programlarının hazırlanması
| dc.contributor.advisor | Tütüncüoğlu, Ergür | |
| dc.contributor.author | Özak, Sevim | |
| dc.contributor.department | Fen Bilimleri Enstitüsü | |
| dc.contributor.department | Elektronik Ana Bilim Dalı | |
| dc.date.accessioned | 2020-01-06T05:44:18Z | |
| dc.date.available | 2020-01-06T05:44:18Z | |
| dc.date.issued | 1987-09-14 | |
| dc.description.abstract | Bu tezde gerçekleştirilen otomatik lojik entegre devre test cihazı, tipik bir software örneğidir. Çalışmalarımız sırasında çok kullandığımız lojik entegre devrelerin test edilmesi amaçlanmış olup, cihaz halen kütüphanesinde bulunan elemanları büyük bir doğrulukla test edebilmektedir. Test işlemleri, lojik seviyeleri kullanılarak yapılmaktadır. | |
| dc.description.abstract | The logic integrated circuit designed in this thesis is a typical sample of software. In the study we aimed to test common types of integrated circuits which are capable of testing the components quite accurately. Test steps are realised by using logic signal levels. | |
| dc.format.extent | VII, 84 sayfa | |
| dc.identifier.citation | Özak, S. (1987). Çeşitli elektronik sistemleri test etmek için mikroişlemci kontrollü otomatik test sisteminin tasarlanması ve mikroişlemci programlarının hazırlanması. Yayınlanmamış yüksek lisans tezi. Uludağ Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü. | |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11452/5074 | |
| dc.language.iso | tr | |
| dc.publisher | Uludağ Üniversitesi | |
| dc.relation.publicationcategory | Tez | |
| dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | |
| dc.subject | Mikroişlemci | |
| dc.subject | Microprocessor | |
| dc.subject | Otomatik test sistem | |
| dc.subject | Automatic test system | |
| dc.title | Çeşitli elektronik sistemleri test etmek için mikroişlemci kontrollü otomatik test sisteminin tasarlanması ve mikroişlemci programlarının hazırlanması | |
| dc.title.alternative | Designing microprocessor controlled automatic test system for testing various electronic systems and preparing microprocessor programs | |
| dc.type | masterThesis | |
| dspace.entity.type | Publication | |
| local.contributor.department | Fen Bilimleri Enstitüsü/Elektronik Ana Bilim Dalı |
