Güneş pili uygulamaları için ultrasonik kimyasal püskürtme yöntemiyle CuxS ince filmlerin üretilmesi ve karakterizasyonu

dc.contributor.advisorPeksöz, Ahmet
dc.contributor.authorFırat, Yunus Emre
dc.contributor.departmentUludağ Üniversitesi/Fen Bilimleri Enstitüsü/Fizik Anabilim Dalı.tr_TR
dc.date.accessioned2020-01-14T05:51:33Z
dc.date.available2020-01-14T05:51:33Z
dc.date.issued2014
dc.description.abstractBu çalışmada ultrasonik kimyasal püskürtme yöntemiyle cam alt tabanlar üzerine 240, 280 ve 320 ± 5oC sıcaklıklarında CuxS ince filmleri büyütülmüştür. CuxS ince filmlerin yapısal, optik, yüzeysel ve elektriksel özelliklerine alttaş sıcaklığının etkisi araştırılmıştır. Üretilen ince filmlerin kalınlıklarının, 160 nm – 380 nm arasında olduğu bulundu. X-ışını kırınım desenlerinden filmlerin kübik ve hekzagonal polikristal yapıya sahip oldukları belirlenmiştir. Optik incelemeler, bu materyallerin yasak enerji aralıklarının doğrudan bant geçişli özellik sergildiğini ve enerji aralıklarının yaklaşık 2,07 eV (CuS), 2,5 eV (Cu1,765S) ve 2,28 eV (Cu1,765S – Cu2S) değerlerinde olduğunu göstermiştir. Atomik kuvvet mikroskobu ile filmlerin üç boyutlu yüzey topografileri ve yüzey pürüzlülükleri incelenmiştir. Dört nokta uçlu hall ölçüm sistemi ile filmlerin bazı elektriksel parametreleri belirlenmiştir.tr_TR
dc.description.abstractIn this study, CuxS films were deposited at different substrate temperatures of 240, 280 and 320 ± 5oC on glass substrates by ultrasonic spray pyrolysis tecnique. The effect of substrate temperature on the structural, optical, morphological and electrical properties of CuxS thin films have been investigated. The thicknesses of produced thin films have been found to be in the range of 160 nm and 380 nm. X-ray diffraction spectra of the films showed that all films are polycrytalline with hexagonal and cubic CuxS phases. Optical investigations show that these materials have exhibited direct band gap characteristics with the band gap values of 2,07 eV (CuS), 2,5 eV (Cu1,765S) and 2,28 eV (Cu1,765S – Cu2S). Three dimensional surface topography and surface roughness of the films have been investigated by atomic force microscope. Four-point probe Hall effect measurement system has been used to determine some electrical parameters of the films.en_US
dc.format.extentIX, 60 sayfatr_TR
dc.identifier.citationFırat, Y. E. (2014). Güneş pili uygulamaları için ultrasonik kimyasal püskürtme yöntemiyle CuxS ince filmlerin üretilmesi ve karakterizasyonu. Yayınlanmamış yüksek lisans tezi. Uludağ Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü.tr_TR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11452/5857
dc.language.isotrtr_TR
dc.publisherUludağ Üniversitesitr_TR
dc.relation.bap2013/11tr_TR
dc.relation.publicationcategoryTeztr_TR
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.subjectUltrasonik kimyasal püskürtmetr_TR
dc.subjectCuxS ince filmtr_TR
dc.subjectYapısal ve optik özelliklertr_TR
dc.subjectGüneş gözeleritr_TR
dc.subjectUltrasonic chemical spray pyrolysisen_US
dc.subjectCuxS thin filmen_US
dc.subjectStructural and optical propertiesen_US
dc.subjectSolar cellen_US
dc.titleGüneş pili uygulamaları için ultrasonik kimyasal püskürtme yöntemiyle CuxS ince filmlerin üretilmesi ve karakterizasyonutr_TR
dc.title.alternativeCharacterization and fabrication of CuxS thin films by ultrasonic spray pyrolysis method for solar cell applicationsen_US
dc.typemasterThesisen_US

Files

Original bundle
Now showing 1 - 1 of 1
Loading...
Thumbnail Image
Name:
373735.pdf
Size:
1.34 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
License bundle
Now showing 1 - 1 of 1
Name:
license.txt
Size:
1.71 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description: