Elektron ışınlarının farklı kaynak - yüzey mesafelerinde dozimetrik olarak incelenmesi

Simple item page
dc.contributor.advisorAraştırma makalesitr_TR
dc.contributor.buuauthorŞengül, Kansu
dc.contributor.buuauthorÇetintaş, Sibel Kahraman
dc.contributor.buuauthorGözcü, Sema
dc.contributor.buuauthorŞahin, Sevim
dc.contributor.buuauthorKurt, Meral
dc.contributor.buuauthorDemiröz, Candan
dc.contributor.buuauthorGürlek, Ümit
dc.contributor.buuauthorÖzkan, Lütfi
dc.contributor.departmentUludağ Üniversitesi/Tıp Fakültesi/Radyasyon Onkolojisi Anabilim Dalı.tr_TR
dc.date.accessioned2021-04-02T07:29:41Z
dc.date.available2021-04-02T07:29:41Z
dc.date.issued2011-02-28
dc.description.abstractElektron demetlerinde yüzey düzensizliği ve farklı kaynak yüzey mesafelerinde (SSD Source to Skin Distance) doz dağılımındaki ve profilindeki değişimi öngören değişik hesaplama algoritmaları tanımlanmıştır. Bu algoritmaların temel önerisi her cihazın doz profil değişiminin ölçülmesi gerektiğidir. Bu çalışmada hesaplama algoritmaları ile elde edilen output değerlerini deneysel olarak ölçerek kontrol etmeyi amaçladık. Çalışmamızda 6,9,12 ve 15 MeV elekron huzmelerinde farklı SSD’lerde farklı alan boyutlarında output değerleri ölçüldü. Bu değerler ile Efektif SSD yöntemine göre hesaplanan kuramsal değerlerle karşılaştırıldı. Output değerleri incelendiğinde küçük alanlarda yüzde farkın fazla olduğu görülmektedir. Enerji ve alan boyutu küçüldükçe etkin SSD değeri küçülmektedir. Yüksek enerjilerde saçılan elektronların fazla olması sebebiyle oluşan doz daha yüksek ölçülür. Sonuç olarak özellikle küçük alan ve düşük enerjilerde etkin SSD bulma yöntemi daha fazla önem kazanmaktadır. Bu nedenle küçük alan ve düşük enerjilerde değişen SSD’ye bağlı olarak her cihaz için ölçümler alınıp düzeltme faktörleri saptanmalı ve Monitör Unit (MU) hesaplamasında düzeltme faktörünün kullanımı gerekmektedir.tr_TR
dc.description.abstractIn electron beam treatment, various calculation algorithms have been described for the change of dose disturbation and profiles caused by surface disorders and different source-skin-distance. The main issue of those algorithms is the necessity of dose profile changing measurement for each machine. The aim of this study was to experimentally assess the output values which were obtained by calculating the algorithms. The output scores for 6, 9, 12 and 15 MeV electron beams were obtained in different source-skin-distance as well as in different field sizes. Results were compared with the values which were obtained by using effective SSD method. When the output values were compared, the percentage difference in small field sizes was found to be more. Due to the reduction of field size and energy, the effective SSD is reduced. In higher energies, the measured dose is higher because of the high amount of scattering electrons. In particular for small field sizes and low energies, the effective SSD method gains more importance. Hence, in small fields and low energies, depending upon variable SSD, measurements should be done and gap correcting factors should be detected for each linear accelerator and air correcting factor should be used in Monitor Unit (MU) calculation.en_US
dc.identifier.citationŞengül, K. vd. (2011). ''Elektron ışınlarının farklı kaynak - yüzey mesafelerinde dozimetrik olarak incelenmesi''. Uludağ Üniversitesi Tıp Fakültesi Dergisi, 37(1), 17-20.tr_TR
dc.identifier.endpage20tr_TR
dc.identifier.issn1300-414X
dc.identifier.issue1tr_TR
dc.identifier.startpage17tr_TR
dc.identifier.urihttps://dergipark.org.tr/tr/download/article-file/420978
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11452/18805
dc.identifier.volume37tr_TR
dc.language.isotrtr_TR
dc.publisherUludağ Üniversitesitr_TR
dc.relation.publicationcategoryMakale - Uluslararası Hakemli Dergitr_TR
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.subjectElektron ışınıtr_TR
dc.subjectSSDtr_TR
dc.subjectElektron dozimetrisitr_TR
dc.subjectUzatılmış kaynak yüzey mesafesitr_TR
dc.subjectElectron beamen_US
dc.subjectMonitör Uniten_US
dc.subjectElectron dosimetryen_US
dc.subjectExtended Source-to-surface distanceen_US
dc.subjectMonitor Uniten_US
dc.titleElektron ışınlarının farklı kaynak - yüzey mesafelerinde dozimetrik olarak incelenmesitr_TR
dc.title.alternativeDosimetric analysis of electron beam at different source to surface distancesen_US
dc.typeArticleen_US

Files

Original bundle
Now showing 1 - 1 of 1
Thumbnail Image
Name:
37_1_4.pdf
Size:
363.12 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Download
License bundle
Now showing 1 - 1 of 1
Name:
license.txt
Size:
1.71 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description:
Download

Collections

2011 Cilt 37 Sayı 1