Bu öğeden alıntı yapmak, öğeye bağlanmak için bu tanımlayıcıyı kullanınız: http://hdl.handle.net/11452/5074
Başlık: Çeşitli elektronik sistemleri test etmek için mikroişlemci kontrollü otomatik test sisteminin tasarlanması ve mikroişlemci programlarının hazırlanması
Diğer Başlıklar: Designing microprocessor controlled automatic test system for testing various electronic systems and preparing microprocessor programs
Yazarlar: Tütüncüoğlu, Ergür
Özak, Sevim
Uludağ Üniversitesi/Fen Bilimleri Enstitüsü/Elektronik Anabilim Dalı.
Anahtar kelimeler: Mikroişlemci
Microprocessor
Otomatik test sistem
Automatic test system
Yayın Tarihi: 14-Eyl-1987
Yayıncı: Uludağ Üniversitesi
Atıf: Özak, S. (1987). Çeşitli elektronik sistemleri test etmek için mikroişlemci kontrollü otomatik test sisteminin tasarlanması ve mikroişlemci programlarının hazırlanması. Yayınlanmamış yüksek lisans tezi. Uludağ Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü.
Özet: Bu tezde gerçekleştirilen otomatik lojik entegre devre test cihazı, tipik bir software örneğidir. Çalışmalarımız sırasında çok kullandığımız lojik entegre devrelerin test edilmesi amaçlanmış olup, cihaz halen kütüphanesinde bulunan elemanları büyük bir doğrulukla test edebilmektedir. Test işlemleri, lojik seviyeleri kullanılarak yapılmaktadır.
The logic integrated circuit designed in this thesis is a typical sample of software. In the study we aimed to test common types of integrated circuits which are capable of testing the components quite accurately. Test steps are realised by using logic signal levels.
URI: http://hdl.handle.net/11452/5074
Koleksiyonlarda Görünür:Yüksek Lisans Tezleri / Master Degree

Bu öğenin dosyaları:
Dosya Açıklama BoyutBiçim 
002074.pdf
  A kadar 2099-12-31
2.77 MBAdobe PDFGöster/Aç Bir kopya isteyin


Bu öğe kapsamında lisanslı Creative Commons License Creative Commons