Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/11452/5074
Title: Çeşitli elektronik sistemleri test etmek için mikroişlemci kontrollü otomatik test sisteminin tasarlanması ve mikroişlemci programlarının hazırlanması
Other Titles: Designing microprocessor controlled automatic test system for testing various electronic systems and preparing microprocessor programs
Authors: Tütüncüoğlu, Ergür
Özak, Sevim
Uludağ Üniversitesi/Fen Bilimleri Enstitüsü/Elektronik Anabilim Dalı.
Keywords: Mikroişlemci
Microprocessor
Otomatik test sistem
Automatic test system
Issue Date: 14-Sep-1987
Publisher: Uludağ Üniversitesi
Citation: Özak, S. (1987). Çeşitli elektronik sistemleri test etmek için mikroişlemci kontrollü otomatik test sisteminin tasarlanması ve mikroişlemci programlarının hazırlanması. Yayınlanmamış yüksek lisans tezi. Uludağ Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü.
Abstract: Bu tezde gerçekleştirilen otomatik lojik entegre devre test cihazı, tipik bir software örneğidir. Çalışmalarımız sırasında çok kullandığımız lojik entegre devrelerin test edilmesi amaçlanmış olup, cihaz halen kütüphanesinde bulunan elemanları büyük bir doğrulukla test edebilmektedir. Test işlemleri, lojik seviyeleri kullanılarak yapılmaktadır.
The logic integrated circuit designed in this thesis is a typical sample of software. In the study we aimed to test common types of integrated circuits which are capable of testing the components quite accurately. Test steps are realised by using logic signal levels.
URI: http://hdl.handle.net/11452/5074
Appears in Collections:Yüksek Lisans Tezleri / Master Degree

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
002074.pdf
  Until 2099-12-31
2.77 MBAdobe PDFView/Open Request a copy


This item is licensed under a Creative Commons License Creative Commons